광학적 평면

요약 프리즘이나 렌즈 등 광학부품의 평면도를 검정하기 위한 유리제의 게이지이다. 평면도를 조사하려는 부품과 광학정반을 놓고 어떤 파동을 입사시켰을 때 일어나는 간섭현상에 의한 뉴턴의 원무늬를 이용하여 평면도를 조사한다.

곡면의 검정을 위해서 같은 모양의 표준곡면을 만든 것을 원기(原器)라고 한다. 둘 다 피검체와 표준체를 밀착시켜서 뉴턴의 원무늬를 관측해서 검사한다.