간섭현미경
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간섭현미경
[
interference microscope
,
干涉顯微鏡
]
요약
간섭계와 조합하여 물체의 미세구조, 요철(凹凸)의 변화, 위상(位相)의 변화 등을 관찰하여 정량측정을 하는 현미경이다.
간섭현미경
투과형과 반사형의 2가지가 있다. 투과형은 입사광선을 광학적 방법에 의해 나누고, 그것이 물체를 투과한 후에 다시 하나로 모아 광파간섭(光波干涉)을 일으키는 것이고, 반사형은 빛의 회절을 이용한 것이다.
간섭현미경에 사용되는 간섭계는 소형이며, 여러 형태의 것이 고안되어 종류가 많다.
